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表面顆粒計數(shù)器(U-III)
UK MICRON OPTOELECTRONICS的表面粒子檢測器系列通過以下技術實現(xiàn)電子半導體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測和控制：核心技術原理界面顆粒再懸浮技術?：采用先進界面技術，通過物理或氣流方式將附著在關鍵表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測。高精度光學檢測：基于激光光學傳感器和光散射原理，實時捕獲懸浮...
更新:2025-04-30
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[新品] 英微米表面微粒分析儀(U-III)
英微米表面微粒分析儀該產(chǎn)品專為高潔凈度制造場景設計，采用革命性激光傳感技術與智能采樣系統(tǒng)，可精準檢測0.1微米級表面顆粒污染，助力半導體、液晶面板及精密電子行業(yè)實現(xiàn)更高良率與可靠性。
更新:2025-04-30
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[新品] 英微米表面粒子計數(shù)器U-III(U-III)
英微米表面粒子計數(shù)器U-III搭載HeNe激光傳感器，分辨率達0.1微米，支持0.1-5.0微米顆粒粒徑的六通道分類統(tǒng)計（0.1/0.2/0.3/1.0/3.0/5.0μm），覆蓋半導體制造中對超細微粒的嚴苛檢測需求。
更新:2025-04-30
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[新品] 英微米晶圓表面潔凈度測定儀U-III(U-III)
英微米晶圓表面潔凈度測定儀U-III采用界面顆粒再懸浮技術?通過物理或氣流方式將附著在關鍵表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測。高精度光學檢測：基于激光光學傳感器和光散射原理，實時捕獲懸浮粒子的散射光信號，實現(xiàn)單個粒子尺寸的精確分析。關鍵性能指標分辨率達0.1微米，支持納米級顆粒檢測；配備...
更新:2025-04-30
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英微米表面顆粒檢測儀U-III(U-III)
英微米表面顆粒檢測儀U-III該產(chǎn)品專為高潔凈度制造場景設計，采用革命性激光傳感技術與智能采樣系統(tǒng)，可精準檢測0.1微米級表面顆粒污染，助力半導體、液晶面板及精密電子行業(yè)實現(xiàn)更高良率與可靠性。
更新:2025-04-30
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